活用事例
コネクタ端子の寸法測定
撮影装置:phoenix nanotom m
試料寸法:9.0 × 9.0 × 58.2 mm
スキャン時間:40 分以内
活用事例
撮影装置:phoenix nanotom m
試料寸法:9.0 × 9.0 × 58.2 mm
スキャン時間:40 分以内
Issue
コネクタ内部にある端子の歪み具合を、製品を分解せずに測定することが課題でした。検体のコネクタは小さく、測定箇所も開口部から深い位置のため、接触式の方法では測定が困難であった。
CTスキャンでは製品内部の形状を取得し、専用のソフトウェア上で測定することが可能です。この事例の場合では、2本の端子間の距離を測定するために、フラットパネルでコネクタ全体をスキャンしています。フラットパネルを使ったスキャンでは、一度に広い領域を測定することが出来るため、正確な検査結果を短時間で得ることが可能です。